Perspectivas de la microscopia electrónoca en el estudio de nanomateriales

Barra lateral del artículo

pdf
Publicado: Oct 17, 2022
Palabras clave:
microscopía electrónica, nanomateriales

Contenido principal del artículo

Daniel Bahena Uribe
Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzado, Laboratorio Avanzado de Nanoscopia Electrónica

Resumen

Edición especial de la sección en colaboració con la Asociación Mexicana de Microscopía A.C., (AMM).

Descargas

Los datos de descargas todavía no están disponibles.

Detalles del artículo

Cómo citar
Bahena Uribe, D. (2022). Perspectivas de la microscopia electrónoca en el estudio de nanomateriales. +Ciencia, (30), 45–47. Recuperado a partir de https://publicaciones.anahuac.mx/index.php/masciencia/article/view/1491
Número
Núm. 30 (2022)
Sección
¡Ciencia en las Fronteras!
Creative Commons License

Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0.

+Ciencia por Universidad Anáhuac México se distribuye bajo licencia internacional Licencia Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional. 

 

 

Citas

Hernández-Cristóbal, O., Arenas-Alatorre, J., Díaz,

G., Bahena, D., & J. Yacamán, M. (2015). High resolution HAADF characterization of Ir/TiO2catalyst reduced at 500 °c: Intensity profile analysis. Journal of Physical Chemistry C, 119(21), 11672-11678. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b01923

Crewe, A. V. (1971). High Intensity Electron Sources

and Scanning electron Microscopy. Electron Microscopy in Material Science, 162-207. Academic Press, New York.

Pennycook, S.J., Varela, M., Hetherington, C.J.D. et

al. (2006). Materials Advances through Aberration-Corrected Electron Microscopy. MRS Bulletin, 31, 36–43.

https://doi.org/10.1557/mrs2006.4