Perspectivas de la microscopia electrónoca en el estudio de nanomateriales

Autores/as

  • Daniel Bahena Uribe Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzado, Laboratorio Avanzado de Nanoscopia Electrónica

Palabras clave:

microscopía electrónica, nanomateriales

Resumen

Edición especial de la sección en colaboració con la Asociación Mexicana de Microscopía A.C., (AMM).

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Referencias

Hernández-Cristóbal, O., Arenas-Alatorre, J., Díaz,

G., Bahena, D., & J. Yacamán, M. (2015). High resolution HAADF characterization of Ir/TiO2catalyst reduced at 500 °c: Intensity profile analysis. Journal of Physical Chemistry C, 119(21), 11672-11678. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b01923

Crewe, A. V. (1971). High Intensity Electron Sources

and Scanning electron Microscopy. Electron Microscopy in Material Science, 162-207. Academic Press, New York.

Pennycook, S.J., Varela, M., Hetherington, C.J.D. et

al. (2006). Materials Advances through Aberration-Corrected Electron Microscopy. MRS Bulletin, 31, 36–43.

https://doi.org/10.1557/mrs2006.4

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Publicado

2022-10-17

Número

Núm. 30 (2022)

Sección

¡Ciencia en las Fronteras!

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Cómo citar

Perspectivas de la microscopia electrónoca en el estudio de nanomateriales. (2022). +Ciencia, 30, 45-47. https://publicaciones.anahuac.mx/index.php/masciencia/article/view/1491