La microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales

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Published: Oct 17, 2022

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Rodrigo Alonso Esparza Muñóz
Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada

Abstract

Edición especial de la sección en colaboració con la Asociación Mexicana de Microscopía A.C., (AMM).

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Esparza Muñóz, R. A. . (2022). La microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales. +Ciencia, (30), 48–51. Retrieved from https://publicaciones.anahuac.mx/index.php/masciencia/article/view/1492
Issue
No. 30 (2022)
Section
¡Ciencia en las Fronteras!
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